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電子封裝中的可靠性問題:封裝缺陷、失效等

[發(fā)布日期:2021-12-31 14:42:46] 點(diǎn)擊:


 

  封裝的失效機(jī)理可以分為兩類:過應(yīng)力和磨損。過應(yīng)力失效往往是瞬時(shí)的、災(zāi)難性的;磨損失效是長期的累積損壞,往往首先表示為性能退化,接著才是器件失效。失效的負(fù)載類型又可以分為機(jī)械、熱、電氣、輻射和化學(xué)負(fù)載等。

  影響封裝缺陷和失效的因素是多種多樣的, 材料成分和屬性、封裝設(shè)計(jì)、環(huán)境條件和工藝參數(shù)等都會有所影響。確定影響因素和預(yù)防封裝缺陷和失效的基本前提。影響因素可以通過試驗(yàn)或者模擬仿真的方法來確定,一般多采用物理模型法和數(shù)值參數(shù)法。對于更復(fù)雜的缺陷和失效機(jī)理,常常采用試差法確定關(guān)鍵的影響因素,但是這個(gè)方法需要較長的試驗(yàn)時(shí)間和設(shè)備修正,效率低、花費(fèi)高。

封裝除泡烤箱

  在分析失效機(jī)理的過程中, 采用魚骨圖(因果圖)展示影響因素是行業(yè)通用的方法。魚骨圖可以說明復(fù)雜的原因及影響因素和封裝缺陷之間的關(guān)系,也可以區(qū)分多種原因并將其分門別類。生產(chǎn)應(yīng)用中,有一類魚骨圖被稱為6Ms:從機(jī)器、方法、材料、量度、人力和自然力等六個(gè)維度分析影響因素。

  展示塑封芯片分層原因的魚骨圖,從設(shè)計(jì)、工藝、環(huán)境和材料四個(gè)方面進(jìn)行了分析。通過魚骨圖,清晰地展現(xiàn)了所有的影響因素,為失效分析奠定了良好基礎(chǔ)。

  失效機(jī)理的分類

  機(jī)械載荷:包括物理沖擊、振動、填充顆粒在硅芯片上施加的應(yīng)力(如收縮應(yīng)力)和慣性力(如宇宙飛船的巨大加速度)等。材料對這些載荷的響應(yīng)可能表現(xiàn)為彈性形變、塑性形變、翹曲、脆性或柔性斷裂、界面分層、疲勞裂縫產(chǎn)生和擴(kuò)展、蠕變以及蠕變開裂等等。

  熱載荷:包括芯片黏結(jié)劑固化時(shí)的高溫、引線鍵合前的預(yù)加熱、成型工藝、后固化、鄰近元器件的再加工、浸焊、氣相焊接和回流焊接等等。外部熱載荷會使材料因熱膨脹而發(fā)生尺寸變化,同時(shí)也會改變?nèi)渥兯俾实任锢韺傩浴H绨l(fā)生熱膨脹系數(shù)失配(CTE失配)進(jìn)而引發(fā)局部應(yīng)力,并最終導(dǎo)致封裝結(jié)構(gòu)失效。過大的熱載荷甚至可能會導(dǎo)致器件內(nèi)易燃材料發(fā)生燃燒。

  電載荷:包括突然的電沖擊、電壓不穩(wěn)或電流傳輸時(shí)突然的振蕩(如接地不良)而引起的電流波動、靜電放電、過電應(yīng)力等。這些外部電載荷可能導(dǎo)致介質(zhì)擊穿、電壓表面擊穿、電能的熱損耗或電遷移。也可能增加電解腐蝕、樹枝狀結(jié)晶生長,引起漏電流、熱致退化等。

  化學(xué)載荷:包括化學(xué)使用環(huán)境導(dǎo)致的腐蝕、氧化和離子表面枝晶生長。由于濕氣能通過塑封料滲透,因此在潮濕環(huán)境下濕氣是影響塑封器件的主要問題。被塑封料吸收的濕氣能將塑封料中的催化劑殘留萃取出來,形成副產(chǎn)物進(jìn)入芯片粘接的金屬底座、半導(dǎo)體材料和各種界面,誘發(fā)導(dǎo)致器件性能退化甚至失效。例如,組裝后殘留在器件上的助焊劑會通過塑封料遷移到芯片表面。在高頻電路中,介質(zhì)屬性的細(xì)微變化(如吸潮后的介電常數(shù)、耗散因子等的變化)都非常關(guān)鍵。在高電壓轉(zhuǎn)換器等器件中,封裝體擊穿電壓的變化非常關(guān)鍵。此外,一些環(huán)氧聚酰胺和聚氨酯如若長期暴露在高溫高濕環(huán)境中也會引起降解(有時(shí)也稱為“逆轉(zhuǎn)”)。通常采用加速試驗(yàn)來鑒定塑封料是否易發(fā)生該種失效。

  需要注意的是,當(dāng)施加不同類型載荷的時(shí)候,各種失效機(jī)理可能同時(shí)在塑封器件上產(chǎn)生交互作用。例如,熱載荷會使封裝體結(jié)構(gòu)內(nèi)相鄰材料間發(fā)生熱膨脹系數(shù)失配,從而引起機(jī)械失效。其他的交互作用,包括應(yīng)力輔助腐蝕、應(yīng)力腐蝕裂紋、場致金屬遷移、鈍化層和電解質(zhì)層裂縫、濕熱導(dǎo)致的封裝體開裂以及溫度導(dǎo)致的化學(xué)反應(yīng)加速等等。在這些情況下,失效機(jī)理的綜合影響并不一定等于個(gè)體影響的總和。

  封裝缺陷的分類

  封裝缺陷主要包括引線變形、底座偏移、翹曲、芯片破裂、分層、空洞、不均勻封裝、毛邊、外來顆粒和不完全固化等。

 友碩ELT真空壓力除泡機(jī)是全球先進(jìn)除泡科技,采用真空+壓力+高溫物理除泡工藝,無塵潔凈真空環(huán)境,含氧量自動控制,快速升溫,快速降溫,揮發(fā)氣體過濾更環(huán)保,10寸工業(yè)型電腦,烘烤廢氣內(nèi)循環(huán)收集,氣冷式安全設(shè)計(jì),高潔凈選配,真空/壓力/溫度時(shí)間彈性式設(shè)定。

  廣泛應(yīng)用于灌膠封裝,半導(dǎo)體黏著/焊接/印刷/點(diǎn)膠/封膠等半導(dǎo)體電子新能源電池等諸多領(lǐng)域,除泡烤箱眾多電子,半導(dǎo)體行業(yè)500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例。

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